场发射扫描电子显微镜
场发射扫描电子显微镜

联 系 人:  曾科

邮      箱:  zengke0609@csu.edu.cn

电      话:  18570321570

地      址:  新化学楼139

生产厂家: 日本株式会社（JEOL）

型      号:  JEOL/JSM-7610FPlus03040702

购买日期: 2018/09/12

预约
参考收费标准
无
开放机时安排
无
主要规格和技术参数
分辨率：0.8nm (二次电子,加速电压：15kV)；1.0nm (二次电子,加速电压：1kV)； 倍率：Direct magnification: x25 to 1,000,000（120 x 90 mm）；Display magnification: x75 to 3,000,000（1,280 x 960 pixels）； 加速电压：0.1 ～ 30 kV； 探针电流：数 pA ～ 200 nA；
主要功能及特色
采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统，提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外还具备利用GENTLEBEAMTM模式进行低加速电压观察、通过r-filter分选信号等满足各种需求的高扩展性。
主要附件及配置